具備目前主流的LUX、MOS、Win等系統顯示效果測試，以及高(gāo)溫或常溫環境下(xià)的3D mark & FurMark測試,可靈活實現超頻與降頻測試。有豐富的高(gāo)端A卡和N卡芯片組焊接、生(shēng)産組裝、測試經驗。